products

首頁 > 產品介紹 > > 整合型覆晶LED點測機

諮詢商品

LFP6000

整合型覆晶LED點測機

整合型覆晶LED點測機
Prober&Tester完全整合,效益大幅提升
適用覆晶LED(Flip Chip LED) 
專利上下積分球設計
可點測Wafer Form&Chip Form
特殊校正治具,可進行TO-CAN/SMD/K2校正
電源流可搭配Keithley相關系列進行整合
業界首創不需要更換軟硬體即可量測可見光與不可見光波段
台中市工業區35路3號 TEL:+886-4-2350-2319 FAX:+886-4-2350-4502
Copyright ©惠特科技股份有限公司 All Rights Reserved.網頁設計 : CB
建議使用最新版本 GoogleInternet Explorer瀏覽器觀看
go top