整合型LED晶粒晶圓點測機

APT 6000
整合型LED晶粒晶圓點測機
LED chip & wafer probing and testing system

Prober & Tester完全整合,效益大幅提升!
積分球直接收光架構及遮光罩設計,杜絕背景光干擾 !

     
  • 採用進口螺桿,機械剛性強,減少磨耗產生背隙
  • 主動式針座,針痕大小一致,延長探針壽命
  • 錄音式警報系統,可依不同狀況錄製不同語音警示
  • 外型尺寸優化縮小,提高廠房利用率
  • 積分球直接收光架構
  • 可點測Chip Form& Wafer Form