邊射型雷射點測分選機

LDS 4200
邊射型雷射點測分選機
Edge emitting laser probing and sorting system

    
  • 適用邊射型雷射 (DFB / FP)
  • 高溫/低溫雙檢測平台(25~85℃)
  • 全程自動化測試系統
  • 彈性設計可設定量測時序