覆晶型LED晶粒晶圓點測機

LFP 6200
覆晶型LED晶粒晶圓點測機
LED chip & wafer probing and testing system

  
  • 適用於覆晶型LED(Flip Chip LED)
  • 4吋積分球上下收光設計
  • Prober & Tester完全整合
  • 可點測Chip Form& Wafer Form
  • 採用進口螺桿,機械剛性強,減少磨耗產生背隙
  • 主動式針座,針痕大小一致,延長探針壽命